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1200V NPTIGBT的设计和工艺研究
近年来,半导体分立器件的设计技术、加工工艺、材料等不断取得新的突破,作为第三代电力电子半导体代表产品,IGBT(绝缘栅双极晶体管)结合了双极型器件和MOSFET的特点,由于其优越的性能在家电、工业、消费电子、汽车等领域得...
吴会利
关键词:绝缘栅双极晶体管参数优化
基于槽栅结构的1200V NPT-IGBT器件的研究
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)作为一种功率半导体器件即拥有MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)...
王少刚
关键词:击穿电压导通压降模拟仿真
3300 V p^+深阱平面栅非穿通IGBT特性
2017年
高压绝缘栅双极晶体管(IGBT)存在寄生晶闸管,易发生闩锁失效。对p^+深阱的参数进行了优化,制备了3 300 V p^+深阱平面栅非穿通IGBT(NPT-IGBT)。对NPT-IGBT的静态特性进行了仿真,结果表明,当p^+结深约为5.5μm,p^+深阱距离多晶硅5μm时,p^+深阱并未影响到沟道处p阱掺杂浓度,对IGBT静态特性无明显影响。制备了不同p^+深阱注入剂量的IGBT芯片,并将芯片封装为模块,分别进行常温和高温下的静态和动态参数测试。测试结果表明,当p^+深阱剂量低时,常温下模块关断失效;而p^+深阱剂量增大时可通过常温、高温开关测试,并通过10μs短路测试。p^+深阱注入剂量对静态特性无明显影响,对动态特性改善明显,可满足应用要求。
刘江王耀华赵哿高明超金锐潘艳
关键词:静态特性闩锁
电磁炉用NPTIGBT的研究
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)以其高耐压、低功率损耗、导通电阻小、大电流以及易于控制和驱动等优点,被广泛应用于电力电子领域,是如今最重要的新型功率半导体器件之一。NPTIGBT作为IGBT器件的杰出代表,具有高可靠性以...
廖涛
关键词:绝缘栅双极型晶体管
1700V/100A平面型NPT-IGBT静态特性研究被引量:1
2014年
基于现有工艺平台设计一款1700V/100A非穿通型绝缘栅双极晶体管器件(Nonpunchthrough insu—latorgatebipolartransistor,简称NPT-IGBT),元胞采用平面型结构,元胞注入采用自对准工艺,背发射极采用透明集电极技术,对其静态特性进行工艺仿真。仿真结果显示,调整P阱注入剂量及P阱推结时间可以改变器件的阈值电压,调整P阱及背面P^+集电极注入剂量可以改变器件的饱和电压。将此设计进行流片验证,结果显示击穿电压在2100V以上,饱和压降在2.5~2.7V之间,阈值电压在3.9~5.9V之间,实测值和仿真值相差不大,在误差接受范围之内。
高明超刘隽赵哿刘江金锐于坤山包海龙
关键词:绝缘栅双极晶体管元胞击穿电压饱和压降
仿真研究NPT-IGBT器件的瞬态特性
2013年
绝缘栅双极晶体管(IGBT)具有驱动简单、易于并联的优点,在高端领域得到广泛应用。以1 200 V非穿通型IGBT(NPT-IGBT)为例,仿真研究IGBT的器件结构对瞬态特性的影响(主要是开关特性和短路特性),并探讨器件短路工作过程中的自升温效应。另外,在保证导通沟道长度不变的前提下,研究pin区与MOS区所占元胞尺寸比例k对IGBT通态电压与关断损耗折衷关系的影响,以及采用自对准工艺进行元胞设计对器件短路特性的影响。研究发现:合理设计氧化隔离层的尺寸能明显提高IGBT的抗短路能力,从而提高器件坚固性;比例系数k越大,通态损耗越低,而开关损耗越高,设计时需综合考虑通态电压和关断损耗的折衷。适当选取k值能完成最优化的器件设计。
刘钺杨金锐赵哿于坤山
关键词:绝缘栅双极晶体管开关损耗
1200V NPT-IGBT的研制
根据给定的技术指标,采用区熔(FZ)单晶衬底、非穿通(NPT)耐压层、尺寸缩小的P阱、平面栅、多级场板终端(或场环加场板)等结构的组合,完成了1200V/25A NPT-IGBT样管的研制。利用DESSIS和TSUPRE...
魏峰
关键词:绝缘栅双极晶体管击穿电压阈值电压分凝系数
3300V NPT-IGBT动态特性研究
随着经济的持续增长,中国进入城市建设高速发展阶段,节能减排概念深入人心。风能太阳能等新能源产业,轨道交通业及电网智能化等产业对3300V以上高压IGBT模块市场需求强劲。在这一领域国内尚无IGBT管芯的设计生产制造能力,...
齐跃
关键词:绝缘栅双极型晶体管动态特性仿真工具
NPTIGBT器件的研究与设计
绝缘栅双极晶体管(IGBT)是现如今主流的功率半导体器件之一,具有高耐压,大电流,低损耗等优点,在电力电子领域内有广泛应用。目前,国内的IGBT生产技术尚不成熟,IGBT产品主要依赖于进口。因此,对IGBT器件的研制有极...
徐徐
关键词:NPT-IGBT导通压降关断时间击穿电压终端结构
600VPT及NPTIGBT产品研制
本文介绍了600 VPT型及NPTIGBT的产品研制及在相关领域的应用.600 V IGBT的试验测试曲线及数据分析表明:两种方案的IGBT,其击穿电压BVCES都满足大于600 V要求;NPTIGBT的阈值电压为5...
钱梦亮陈俊标
关键词:绝缘栅双极型晶体管
文献传递

相关作者

吴郁
作品数:121被引量:102H指数:5
供职机构:北京工业大学
研究主题:IGBT 槽栅 内透明集电极 绝缘栅双极晶体管 JFET
胡冬青
作品数:99被引量:63H指数:4
供职机构:北京工业大学
研究主题:内透明集电极 IGBT 绝缘栅双极晶体管 功率MOSFET 槽栅
亢宝位
作品数:75被引量:150H指数:7
供职机构:北京工业大学电子信息与控制工程学院
研究主题:IGBT 绝缘栅双极晶体管 晶体管 JFET 槽栅
李肇基
作品数:359被引量:619H指数:13
供职机构:电子科技大学
研究主题:击穿电压 功率器件 导电类型 SOI 功率半导体器件
乔明
作品数:595被引量:128H指数:7
供职机构:电子科技大学
研究主题:导电类型 半导体功率器件 功率半导体器件 比导通电阻 击穿电压