吴丹
- 作品数:20 被引量:26H指数:3
- 供职机构:武汉数字工程研究所更多>>
- 相关领域:电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>
- I_(DDQ)测试方法的研究与实现
- 2000年
- I_(DDQ)测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期失效器件。I_(DDQ)测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。围绕这两大课题,本文提出了一种基于ITS9000测试系统的功能I_(DDQ)测试方法和技术,并在ITS9000上进行了测试试验。实践表明,这种功能I_(DDQ)测试方法,可以自动生成测试向量集和测试程序,测试效率高,测量结果精确,测试操作简便易行。
- 吴丹石坚周红
- ASL3000测试系统的校准方法研究被引量:1
- 2012年
- 本文介绍了ASL3000测试系统校准装置的设计和实现方法,从硬件和软件的角度分别介绍了系统的硬件平台构建方法、计算机和校准装置之间的通信方式、校准适配单元设计技术以及校准软件设计技术。校准装置采用了测试系统整体校准方案,由标准仪器、校准接口、校准软件与测试系统组成一个闭环系统,通过测试系统运行校准程序对系统进行全量程、全自动校准,具有校准方便、准确、稳定、组织结构简单、容易实现的优点。通过在相同条件下进行大量的试验,给出了ASL3000测试系统的实际校准结果的不确定度,并通过传递比较法进行了验证,证实了该校准装置的可实现性和有效性。
- 吴丹
- 关键词:测试系统校准混合信号射频测量不确定度
- 基于Verigy93000测试系统的向量生成工具研究和实现
- Verigy93000测试系统(简称V93000测试系统)是当前应用广泛的测试机台,不论在实速器件特性分析还是大批量制造,V93000都能满足业界在性能和成本方面的需求和挑战。然而对于芯片的入厂检测来说,测试向量需要自行...
- 胡勇吴丹李轩冕
- 关键词:集成电路测试向量
- 文献传递
- ispLSI自动编程与测试技术
- 本文提出了一种全新的可编程逻辑器件测试方法,解决了ispLSI器件的测试问题.我们从ispLSI的结构模型和故障模型分析入手,研制了编程模式和普通模式相结合的ispLSI测试方法.实验表明,采用这种方法测试ispLSI器...
- 吴丹石坚
- 关键词:可编程逻辑器件专用集成电路自动编程测试技术
- 文献传递
- Lattice可编程器件测试程序开发技术被引量:5
- 2004年
- 本文讨论可编程器件测试方法以及测试程序设计技术。介绍了功能测试模型、测试程序生成软件以及测试技术规范。
- 石坚吴丹韩红星
- 关键词:可编程器件测试程序ISP
- ispLSI测试被引量:1
- 2005年
- 讨论ispLSI可编程器件测试方法和技术,介绍功能测试模型;提出了逻辑功能测试和时间延迟测试的实现方法。
- 石坚吴丹韩红星
- 关键词:ISPLSI可编程器件
- 集成电路测试系统中波形数字化仪的校准研究被引量:1
- 2012年
- 文章介绍了波形数字化仪的原理、结构、工作方式及特点,并针对其校准技术进行了深入的研究。通过多功能校准源、示波器及测试系统数字模块实现波形数字化仪模块的精确校准,解决了波形数字化仪模块的校准问题。校准结果表明,该校准装置及校准方法能够满足集成电路测试系统任意波形发生器的校准要求。
- 吴丹
- 关键词:混合信号数字化仪采样率信号幅度校准
- 集成电路测试系统程控直流电源校准技术研究被引量:3
- 2012年
- 介绍了集成电路测试系统中程控直流电源的结构、工作原理,分析了影响程控直流电源准确校准的因素,提出采用开尔文连接校准程控直流电源的方法。根据该原理对ASL3000集成电路测试系统进行了校准实验,通过对测量结果的不确定度进行分析,证实了测量结果的准确性和可靠性。
- 吴丹
- 关键词:集成电路测试系统校准测量不确定度
- 运算放大器运放环模块测试研究被引量:9
- 2021年
- 运算放大器是模拟电路中最重要的单元电路。随着集成电路小型化的发展,运算放大器的测试变得越来越复杂。自动测试系统的运放环模块能够提供高精度的测试资源,并可引出到被测器件接口独立使用,使测试电路的设计更加简单。根据运算放大器参数的物理意义及其测试原理方法,控制运放环模块内部的开关和继电器搭建相应测试电路,可以对运算放大器各参数进行精确、自动测试。实际测试结果表明,该方法能够保证运算放大器的输入失调电压、输出摆幅、开环电压增益、电源电压抑制比及共模抑制比参数测试的准确性。
- 吴丹段春阳李玉玲
- 关键词:测试系统参数测试
- 基于ATE的FPGA多次自动配置技术研究被引量:3
- 2010年
- 以XILINX公司的Virtex-5系列器件为基础,采用串行从模式,实现在测试过程中由ATE对被测FPGA的多次自动配置。文章研究了FPGA自动配置的配置流程、配置时序以及配置向量的自动生成方法。该方法可广泛适用于Virtex和Spartan系列所有的FPGA。
- 刘倩吴丹沈森祖
- 关键词:FPGA串行向量