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胡勇

作品数:11 被引量:13H指数:2
供职机构:武汉数字工程研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 5篇会议论文

领域

  • 7篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇电气工程

主题

  • 7篇电路
  • 5篇集成电路
  • 5篇测试系统
  • 4篇校准
  • 3篇电路测试
  • 3篇电路测试系统
  • 3篇向量
  • 3篇测试向量
  • 2篇单片
  • 2篇单片机
  • 2篇溯源性
  • 2篇集成电路测试
  • 2篇集成电路测试...
  • 1篇电路仿真
  • 1篇电路设计
  • 1篇定值
  • 1篇虚拟仪器
  • 1篇设计实现
  • 1篇数字集成电路
  • 1篇图形处理器

机构

  • 11篇武汉数字工程...

作者

  • 11篇胡勇
  • 6篇李轩冕
  • 5篇贺志容
  • 3篇刘倩
  • 2篇吴丹
  • 2篇韩红星
  • 2篇周厚平
  • 1篇石坚
  • 1篇沈森祖
  • 1篇肖莹

传媒

  • 6篇计算机与数字...

年份

  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 3篇2015
  • 2篇2010
  • 4篇2008
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于93000的单片机最小可测系统设计
2010年
为了利用集成电路测试系统实现对单片机的测试,提出了基于93000测试系统的单片机最小可测系统的设计方案,包括硬件连接和软件程序设计,详细介绍了最小可测系统的实现原理和方法。整个系统设计方案简洁、设计成本低廉、使用方便。
李轩冕胡勇贺志容韩红星
关键词:单片机
混合集成电路测试系统校准装置架构设计被引量:3
2015年
为了实现针对混合集成电路测试系统的校准,论文详细分析了混合集成电路测试系统参量及各参量的校准原理,并提出了混合集成电路测试系统校准装置架构设计的方案。该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。
李轩冕刘倩胡勇
关键词:校准虚拟仪器
一种数字集成电路标准样片的设计实现
2015年
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的检定、校准以及比对。最后给出了标准样片的不确定度评定和测量数据。
胡勇刘倩周厚平
关键词:溯源性不确定度评定定值
集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计
2015年
在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在预期的时间范围内,各信号之间的相对时间是否准确的关键时间参量,必须进行校准保证其溯源性。论文以V93000集成电路测试系统为例,介绍了集成电路测试系统总定时精度自动校准程序的设计方法。
刘倩胡勇李轩冕
关键词:集成电路测试系统校准
93K集成电路测试系统参考源校准方法研究
集成电路测试系统校准关系到集成电路测试结果的准确性和可靠性。本文介绍了93k SOC系列测试系统概况,重点论述了93k集成电路测试系统参考源校准的原理、校准项目、实施方法及校准结果判断等内容,为进一步研究集成电路测试系统...
贺志容韩红星胡勇
关键词:集成电路测试系统参考源校准
文献传递
图形处理器电路设计仿真与测试技术研究
根据图形处理器芯片的功能结构,提出了电路设计要求,给出了仿真波形图。基于芯片的电路仿真结果,并结合93000测试系统,给出了测试图形转换方法,转换生成了测试图形。完成了超大规模复杂芯片的功能测试,并给出了图形处理器的测试...
贺志容张祥胡勇
关键词:图形处理器电路仿真
93000测试程序库设计
本文介绍了93000测试程序库的设计背景、特性、实现方法,提出了以八类器件为代表的模板化设计技术,可供有关人员,特别是研制测试程序或测试程序库的人员参考。
李轩冕胡勇贺志容
关键词:模板化
文献传递
基于标准样片的集成电路测试系统校准装置研究
2019年
标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,而基于标准样片的集成电路测试系统校准装置使得标准样片的量值可以准确可靠地传递到测试系统每个通道上,满足测试系统全通道覆盖的校准需求。论文提出了一种基于标准样片的集成电路测试系统校准装置架构设计方法,该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。
肖莹胡勇周厚平
关键词:溯源性校准
基于V93000测试系统的存储器测试方法研究和实现
存储器芯片是一种应用广泛的数字集成电路,必须经过许多必要的测试以保证其功能正确。对于其入厂检测来说,测试向量不仅要自行开发,而且需要达到一定的覆盖率才能检测出存储器的绝大部分功能性错误,这对测试方法、测试设备提出了较高的...
胡勇吴丹沈森祖石坚
关键词:APG测试向量
文献传递
单片机测试向量生成技术研究被引量:10
2010年
集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章分析了目前单片机测试向量获取的几种方法,并在此基础上提出了一种单片机测试向量生成的新方法,通过将单片机测试向量分成测试激励和测试响应两部分,测试激励部分通过编写专用脚本软件将汇编程序转换成ATE专用测试向量,测试响应部分的测试向量则通过ATE的匹配功能来完成,从而成功地实现了对单片机的测试。
胡勇李轩冕贺志容
关键词:测试系统测试向量单片机
共2页<12>
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