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朱祖华

作品数：22 被引量：26H指数：3
供职机构：浙江大学信息与电子工程学系更多>>
发文基金：国家高技术研究发展计划国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信理学机械工程电气工程更多>>

合作作者

题名
作者

文献类型

  • 12篇期刊文章
  • 4篇专利
  • 1篇会议论文

领域

  • 12篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 10篇电场
  • 7篇电场分布
  • 7篇激光
  • 7篇激光器
  • 5篇半导体
  • 4篇光电
  • 4篇半导体激光
  • 4篇半导体激光器
  • 3篇电场强度
  • 3篇列阵
  • 3篇激光器列阵
  • 3篇场强
  • 2篇电光
  • 2篇电流扩展
  • 2篇锁相放大
  • 2篇锁相放大器
  • 2篇微机控制
  • 2篇无干扰
  • 2篇显微镜系统
  • 2篇连续波

机构

  • 16篇浙江大学
  • 2篇中国科学院
  • 1篇苏州大学
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 17篇朱祖华
  • 5篇丁纯
  • 4篇丁桂兰
  • 3篇吴小萍
  • 2篇周强
  • 2篇陈抗生
  • 2篇楼东武
  • 2篇杨易
  • 1篇苏小元
  • 1篇施惠英
  • 1篇陈兴国
  • 1篇程宗权
  • 1篇赵春华
  • 1篇陈文正
  • 1篇王晨
  • 1篇陈良惠
  • 1篇吕章德
  • 1篇蒋惠英
  • 1篇王惠民
  • 1篇胡征

传媒

  • 5篇光学学报
  • 3篇Journa...
  • 1篇电子学报
  • 1篇中国激光
  • 1篇高技术通讯
  • 1篇半导体光电
  • 1篇第四届全国光...

年份

  • 1篇1998
  • 2篇1997
  • 1篇1996
  • 2篇1995
  • 2篇1994
  • 2篇1993
  • 2篇1992
  • 4篇1991
  • 1篇1989
共 22 条 记 录，以下是 1-10
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不同状态下激光器电场强度分布的电光检测与初步分析
1993年
连续波电光检测技术是近几年发展起来的测量光电材料及光电材料制备的器件的电特性的一种新型测量技术。它基于线性电光效应。采用连续波激光作为测量手段。 CW EOP技术已在GaAs,LiNbO_3等光电材料及器件的电场分布检测中得到实质性应用。采用CWEOP技术对半导体激光器内场分布电光检测的初步结果在文献[4]中已有报道,本文是对激光器在不同状态下进行场分布电光检测的更进一步探讨。
王硕勤朱祖华
关键词：激光器电场强度光电检测
电光取样技术在ps级超短电脉冲测量和GHz高频电信号测量中的应用被引量：1
1991年
对ps级超短电脉冲测量而言,电光取样是目前最准确、最有效的方法之一。本文介绍了电光取样的基本测量原理及实验途径,对测量的误差因素进行了分析。电光取样对由电光晶体如GaAs、LiNbO_3等制成的光电器件的瞬态响应测量具有特殊优点。本文着重对GaAs集成电路的瞬态测量原理和方法及误差因素进行了介绍。电光取样基于谐波混频原理对GaAs高频场分布的测量也十分有效。
王硕勤朱祖华
关键词：脉冲测量信号测量
用连续波电光检测技术进行LiNbO_3定向耦合波导调制器的场分布测量被引量：3
1991年
本文介绍一种新颖的无损伤检测技术——连续波电光检测技术(OWEOP)对LiNbO_3定向耦合波导调制器模拟样品内场分布进行各种测量所获得的实验结果。采取了背射和端射两种测量方式,测出了波导电极条下,电极间隙区以及电极中断区电场的分布,并对实验结果进行了讨论。
朱祖华丁纯丁桂兰王硕勤
关键词：波导调制器电场分布
InP系波导和光电探测器单片集成
1996年
本文主要报道ＩｎＰ光波导和ＩｎＧａＡｓ－ＰＩＮ光电探测器的单片集成，包括材料生长、器件工艺、器件测试三个部份．器件的结构和制作方法较为简单，而代表器件性能的主要参数可与国外同类器件相接近，如光波导损耗最小为８．６ｄＢ／ｃｍ，器件正向压降为０．４～０．６Ｖ，反向击穿电压＞４０Ｖ，响应度～０．５Ａ／Ｗ，上升时间＜０．９ｎｓ．
杨易陈兴国程宗权王惠民吕章德蒋惠英王晨施惠英吴学海朱祖华胡征
关键词：磷化铟光电探测器单片集成
工作状态下半导体激光器中电场分布的测量方法及装置
连续波电光检测技术测量半导体激光器场分布的方法及装置：方法特征是探测激光垂直解理面透射处于工作状态的被测半导体激光器，其本身发出的激光经分离和/或滤去；装置特征是半导体激光器与检偏器间增设显微镜系统、分光和/或滤光装置，...
朱祖华
场分布自动电光检测装置
一种电场分布自动电光检测装置，包括光路系统、光电探测器和锁相放大器，特征是设置了以微机控制的二维步进驱动系统，实现探测激光对被测样品的二维自动扫描，并从锁相放大器输入表征被测样品内电场强度的电压量，进行自动采集、处理、存...
朱祖华丁桂兰楼东武周强丁纯
文献传递
连续波电光检测法用于检测超薄层异质结外延材料均匀性的研究被引量：1
1997年
本文以连续波电光检测法（CWEOP）为基本原理，设计完成了自动电光检测系统，并采用锁相放大技术，对超薄层异质结外延材料进行了电场分布的测试，由此对其均匀性进行了评估．通过实验探讨了超薄层异质结外延材料2DEG分布不均匀的电光检测标准、最佳测试条件等，并对影响测量结果的因素进行了分析．本方法的突出优点是能够无损地对超薄层异质结外延材料不均匀的2DEG进行定位．
苏小元朱祖华
关键词：分子束外延异质结
GaAs／GaAlAs激光器列阵有源区电场分布研究
1995年
用连续波电光检测法测量了激光器列阵发光区电场分布，并对其注入电流扩展作了模拟讨论。
吴小萍朱祖华方祖捷
关键词：激光器列阵GAALAS
宽接触半导体激光器及激光器列阵丝状发光现象研究被引量：1
1994年
用连续波电光检测法直接测量宽接触半导体激光器及激光器列阵的电场分布，分析器件的丝状发光现象，并初步解释了产生的原因．
吴小萍朱祖华
关键词：半导体激光器电场分布
半导体激光器中电场分布特性的连续波电光检测被引量：7
1992年
利用连续波电光检测法首次成功地对AlGaAs/GaAs半导体激光器中的电场分布进行了测量.测量结果直接表征了器件注入电流扩展和载流子限制特性. 本文简要地描述了方法的原理和实验装置,给出了典型的测量结果并对其进行了讨论.
朱祖华王硕勤丁纯丁桂兰吴小萍陈良惠
关键词：半导体激光器电场
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