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常志刚

作品数:1 被引量:1H指数:1
供职机构:航空综合环境重点实验室更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电子设备
  • 1篇耐久
  • 1篇耐久性
  • 1篇耐久性试验
  • 1篇可靠性

机构

  • 1篇航空综合环境...

作者

  • 1篇祝耀昌
  • 1篇常志刚
  • 1篇徐明

传媒

  • 1篇航空标准化与...

年份

  • 1篇2000
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
电子设备耐久性试验的发展被引量:1
2000年
结合介绍美国专家对电子设备进行耐久性试验的新观点 ,论述了有关电子设备耐久性试验的基本概念、用途、对研制计划和费用的影响以及确定试验的基本步骤等问题 ;最后谈了几点看法。
祝耀昌徐明常志刚
关键词:电子设备耐久性可靠性
共1页<1>
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