您的位置： 专家智库 > >

贵州省科学技术基金(J20102002)

作品数：1 被引量：0H指数：0
相关作者：郝正同杨子义更多>>
相关机构：贵阳学院绵阳师范学院更多>>
发文基金：贵阳市科学技术计划项目贵州省科学技术基金更多>>
相关领域：理学更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇射线衍射
  • 1篇SI基
  • 1篇X射线衍射

机构

  • 1篇贵阳学院
  • 1篇绵阳师范学院

作者

  • 1篇杨子义
  • 1篇郝正同

传媒

  • 1篇绵阳师范学院...

年份

  • 1篇2010
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
Si基薄膜的X射线衍射表征研究
2010年
简述了X射线衍射(X-Ray Diffraction,XRD)的基本原理,计算了硅晶体的消光特性,从理论上研究了Si基薄膜XRD表征的特征。研究结果表明:由于薄膜的择优生长,Si基薄膜XRD谱与粉晶XRD谱存在差异;并可能观测到Si基片的二级衍射峰。研究结果在实际应用中对分析硅基薄膜的晶体结构具有重要意义。
郝正同杨子义
关键词：X射线衍射
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0