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抗辐照
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相关度排序
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时效性降序
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相关度排序
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时效性降序
时效性升序
一种
抗
辐照
电荷泵电路
本申请提供了一种
抗
辐照
电荷泵电路,包括:电流源输入单元、电流源输出单元、冗余开关单元以及运算放大单元;电流源输入单元用于根据基准电流生成开关电流;冗余开关单元通过电流源输出单元接地,用于通过自身中四条电流支路分别接收开关...
田岱宸
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一种
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辐照
双栅LDMOS器件结构
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抗
辐照
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方健
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一种新型
抗
辐照
加固SRAM单元电路
本发明提供一种新型
抗
辐照
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吕红亮
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一种
抗
辐照
水果保鲜薄膜及其制备方法
本发明涉及一种
抗
辐照
水果保鲜薄膜,所述水果保鲜薄膜包括改性PBAT/PLA复合基膜及沉积在所述改性PBAT/PLA复合基膜上的无机材料层;所述改性PBAT/PLA复合基膜由以下重量份数的原料组成:75~85份PBAT、1...
汪恩锋
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抗
辐照
加固D触发器
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抗
辐照
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吕红亮
杨曹振
严思璐
一种
抗
辐照
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抗
辐照
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抗
辐照
金属外壳及其制备方法。本发明该外壳包括壳体,壳体内设置有陶瓷基板,陶瓷基板上设有用于安装芯片的凸台,凸台上罩设有钽帽,凸台的底部设有钽板。本发明实现了芯片
辐照
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抗
辐照
高精度开关状态电压检测电路
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抗
辐照
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抗
辐照
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抗
辐照
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强冰
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一种应用于存储器芯片的
抗
辐照
检测方法
本发明是关于应用于存储器芯片的
抗
辐照
检测方法,包括:基于
辐照
测试前的原始数据块和预设算法,生成原始数据块对应的识别字段作为原始识别字段,其中,基于写入存储器的原始数据块在
辐照
环境下的预计损伤确定所述预设算法;基于
辐照
测试...
杨威
一种应用于存储器芯片的
抗
辐照
检测系统
本发明是关于应用于存储器芯片的
抗
辐照
检测系统,该系统包括:
辐照
测试模块,用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行
辐照
测试;无线通信模块,包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元;无线输出单元设置于
辐照
测试模块中并与存储器芯片...
杨威
一种级联型
抗
辐照
GaN HEMT及其制作方法
本发明公开一种级联型
抗
辐照
GaN HEMT及其制作方法,本发明在MIS结构GaN HEMT的栅极结构处制备局域刻蚀孔,并填入肖特基金属层,使得
辐照
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辐照
损伤。肖...
周峰
荣玉
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任芳芳
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作品数:298
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研究主题:电路 芯片 电路结构 灵敏放大器 反相器
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