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搜索到1555篇“ 存储器测试“的相关文章

存储器测试电路: 本发明提供一种存储器测试电路，其包括存储器模块。所述存储模块包括测试供电端、电流测试端、测试接口、存储器、选择器、测试逻辑模块和控制模块，所述测试接口与所述测试逻辑模块相连，所述电流测试端与所述存储器相连。在所述存储模块...; 王晓卫李京李兆升肖思龙

Nand flash存储器测试装置: 本实用新型公开一种Nand flash存储器测试装置，包括：若干个不同型号的SoC平台，所述SoC平台配置有动态随机存取存储器，所述SoC平台均与待测闪存存储器电连接，以测试待测闪存存储器在若干个所述SoC平台上的兼容性...; 孙文琪

存储器测试装置及系统: 本申请提供一种存储器测试装置，包括：对接模块，对接模块设置于机架上，对接模块包括网络连接器，对接模块通过网络连接器获取测试指令。测试模块，测试模块设置于测试设备中，测试设备中还设置有待测试存储器，测试模块包括信号连接器，...; 陈保林李阳张卫民

可携式存储器测试系统: 一种可携式存储器测试系统包含第一存储器连接器、信号延迟装置以及处理器。第一存储器连接器用以连接第一待测芯片。信号延迟装置耦接于第一存储器连接器。处理器耦接于信号延迟装置，并用以将第一待测芯片的多个第一芯片引脚的第一引脚定...; 陈建宇詹鸿凯杨博仁

存储器测试方法、装置、设备及存储介质: 本公开提供一种存储器测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。该方法包括：获取待测试存储器的中央处理器可访问空间；获取所述待测试存储器的图形处理器可访问空间；驱动所述中央处理器基于所述中央处理器可访问空间运行测...; 许小峰

一种存储器测试方法、系统、装置及存储介质: 本发明公开了一种存储器测试方法、系统、装置及存储介质，方法包括：对待测存储器进行初始化后得到初始存储器；根据预设写入次数将测试数据重复写入所述初始存储器第n行和第m列的所述存储单元中，并在每次写入测试数据时对第n行的其他...; 杨祖放

一种半导体存储器测试系统及测试方法: 本发明公开一种半导体存储器测试系统及测试方法，涉及存储器测试技术领域，该系统包括：测试板，用于直接插入至少一个待测半导体存储器；微型气候室，放置在测试板上，用于调控测试板所处温度环境；离线软件/测试转换器，用于编写长矢量...; 濮必得殷和国

一种SDRAM存储器测试的March C地址匹配算法: 本发明属于存储器测试技术相关领域，其方法公开了一种SDRAM存储器测试的March C地址匹配算法，该方法综合存储器故障覆盖率，测试时间复杂度，实际检测时间等多种因素影响，在基于March C算法的基础上对测试算法进行了...; 高磊朱望纯陈雨

Flash存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质: 本发明提供了一种Flash存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及测试技术领域。所述方法包括：通过上位机的数据读写软件将第一测试数据写入Flash存储器；通过数据读写软件读取Flash存储器内的第一存储数据，根据第...; 李佳城张计悦梁云雷苏衍宇

用于执行纠错和存储器测试操作的封装内定序器: 定序器部件的处理设备可以从所述定序器部件外部的控制器接收数据。所述定序器部件的所述处理设备可以对从所述定序器部件外部的所述控制器接收的所述数据执行纠错操作，以生成与所述数据相关联的码字。所述码字可以存储在与所述定序器部件...; S·米塔尔戴颖煜吴程元J·朱

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蔡志匡: 作品数：218被引量：35H指数：3; 供职机构：南京邮电大学; 研究主题：电路测试电路可测性设计集成电路低电压

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